Fourniture d'un microscope électronique en transmission en mode balayage (STEM) haute-résolution (HR) équipé d’un canon froid à émission par effet de champ (CFEG)

Description

Le CEA-LETI souhaite acquérir un microscope électronique en transmission (TEM) en mode balayage (STEM) avec un canon à émission de champ froide (C-FEG). Le microscope devra être équipé de détecteurs de dispersion en énergie de rayons X (EDX), d’un système de précession de diffraction électronique (PED) et d’un spectromètre en énergie notamment pour des mesures de pertes d’énergie des électrons (EELS). Lot 1: Le CEA-LETI souhaite acquérir un microscope électronique en transmission (TEM) en mode balayage (STEM) avec un canon à émission de champ froide (C-FEG). Le microscope devra être équipé de détecteurs de dispersion en énergie de rayons X (EDX), d’un système de précession de diffraction électronique (PED) et d’un spectromètre en énergie notamment pour des mesures de pertes d’énergie des électrons (EELS). Il a été indiqué 1.00 à la rubrique "montant" uniquement parce que le champ est bloquant pour la publication de l'avis d'attribution et que le CEA ne peut pas indiquer le véritable prix de l'équipement sans violer le secret des affaires.