Darkfield and scanning probe microscopes

Description

Předmětem veřejné zakázky je komplexní dodávka, instalace a uvedení do úplného provozu mikroskopu atomárních sil (AFM). Mikroskop atomárních sil (AFM, z eng. Atomic Force Microscopy) je měřící přístroj využívaný ke studiu povrchových vlastností vodivých i nevodivých vzorků. AFM je schopen snímat trojrozměrné mapy (topografie) a povrchové vlastností vzorku a to jak na vzduchu, tak i v kapalném prostředí, s velmi vysokým laterálním, vertikálním a silovým rozlišením. Měřící sonda AFM je tvořena velmi ostrým hrotem, který je upevněn na ohebném nosníku. Mechanizmus měření u AFM je založen na bodovém snímání interakcí přitažlivých a odpudivých sil mezi atomy na špičce měřícího hrotu a atomy na povrchu vzorku. Měření probíhá při rastrování hrotové sondy nad povrchem vzorku, jenž je realizovaný pomocí piezoakutátorů umožňující velmi přesný pohyb son Předmětem veřejné zakázky je komplexní dodávka, instalace a uvedení do úplného provozu mikroskopu atomárních sil (AFM). Součástí dodávky je předání plně funkčního zařízení splňujícího zadavatelem požadované parametry v místě plnění, včetně vyřízení všech formálních úředních úkonů souvisejících s dodávkou, ke kterým zadavatel poskytne veškerou potřebnou součinnost.