Darkfield and scanning probe microscopes

Description

Předmětem veřejné zakázky je rozšíření systému mikroskopu atomárních sil (AFM) řady Dimension. Mikroskop atomárních sil řady Dimension je měřicí přístroj využívaný ke studiu povrchových vlastností vodivých i nevodivých vzorků a je schopen snímat trojrozměrné mapy (topografie) a povrchové vlastností vzorku. Požadavek na rozšíření systému vychází z potřeby měření povrchových struktur na vzorcích v rozsahu, který není na stávajícím systému umožněn. Požadované rozšíření systému AFM řady Dimension musí umožňovat zvětšení rozsahu plochy v kterém je možné provádět inspekci vzorků. Rozšíření inspekční oblasti vzorku musí být realizováno přímým rozšířením rozsahu motorizovaného stolku umožňující polohování vzorku v osách X a Y vůči poloze měřícího skeneru. Zachována musí být kompatibilita a možnost řízení rozšířených stolků ze stávajícího SW rozhraní systému řady Dimension. Dodavatel se podáním své nabídky zavazuje dodat nový systém (ne repasovaný nebo demo). Součástí dodávky je předání plně funkčního systému splňujícího zadavatelem požadované parametry v místě plnění, včetně vyřízení všech formálních úředních úkonů souvisejících s dodávkou, ke kterým zadavatel poskytne veškerou potřebnou součinnost.