Analysis services

Description

Prestations d'analyses de surfaces par TOF-SIMS. Il s’agit d’un prestation d’analyses de surface sur des échantillons solides par TOF-SIMS (spectrométrie de masse à ionisation secondaire avec analyse par spectrométrie de masse à temps de vol). Les échantillons à analyser sont issus d’études scientifiques, il s’agit principalement de verres mais il peut s’agir de céramiques ou de métaux. Dans la plupart des cas il s’agit d’analyser des couches de surface dont les compositions sont très variables. Le nombre d’échantillons est compris entre 100 et 200 par an. Les phénomènes à observer sont très variables et demandent parfois la mise au point de protocoles analytiques spécifiques en lien avec l’analyse (mode abrasion, cartographie et potentiellement avec un porte échantillon refroidi et un système de congélation des échantillons). L’analyste devra donc avoir une grande expertise technique sur le TOF-SIMS. Le client pourra assister aux analyses et ces dernières ne pourront pas être sous-traitées par le prestataire.