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Scanning electron microscopes
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Description
Beschaffung eines Hochauflösenden Rasterelektronen-Mikroskops (REM) für die Charakterisierung und Analyse von Fasermorphologien, Beschichtungen und Schädigungen, zur Bewertung der Wirkung und Verteilung von Additiven in Kunststoffen sowie zur Ermittlung von Bruchflächenmerkmalen und zur Schadensanalyse von Faserverbundwerkstoffen. Es sollen Oberflächenstrukturen mit hoher Auflösung und Tiefenschärfe dargestellt werden. Beschaffung eines hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop zzgl. Wartungs- und Servicevertrag für 5 Jahre
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