Lieferung, Aufstellung und Inbetriebnahme eines Rasterkraftmikroskops mit Zubehör

Description

Lieferung, Aufstellung und Inbetriebnahme von einem hochauflösenden Rasterkraft-mikroskop mit closed-loop Spitzenscanner und motorisierter XY Positionierung in großem Probenraum, Bandbreite >=15kHz in ALLEN 6 Verstärkerbereichen, mit automatischer Regelung auf die kontinuierlich erfasste max. Abbildungskraft, für die wissenschaftlichen Untersuchungen von Brennstoffzellen-Membranen mit einschlägigen Referenzen z. B. ionische Leitfähigkeits-Bestimmung. Lot 1: Lieferung, Aufstellung und Inbetriebnahme von einem:Hochauflösendes Rasterkraftmikroskop mit closed-loop Spitzenscanner >= 85µm*85µm*9,5µm XYZ @ Z-Rauschen </= 30 pm RMSmotorisierter XY Positionierung in großem Probenraum (>/= 200mm*200mm*45mm XYZ) geeignet zur Integration und Positionierung externer Komponenten (z.B. Nanoprober, EC-Zellen etc.)cAFM: Schneller, softwaregesteuerter linearer Vorverstärker für Strommessungen zwischen Spitze und Probenoberfläche mit 6 Verstärkerbereichen:- 6 Verstärkerbereiche von 20pA/V bis 100nA/V bei Bias-Spannungen von -10V bis +10V. Bandbreite >=15kHz in ALLEN Verstärkerbereichen, minimaler Rauschpegel bis zu 70 fAGeeigneter Cantilever Halter und kommerziell verfügbare Spitzen für cAFM Messungen in Flüssigkeit mit folgenden Abbildungsmodi.Umfangreiche Betriebsmodi zur nanomechanischen und nanoelektrischen Charakterisierung an Luft, in Lösung und unter kontrollierten elektrochemischen Bedingungen:- nicht-resonant vertikal oszillierender Abbildungsmodus (nroIM) mit automatischer Regelung auf die kontinuierlich erfasste max. Abbildungskraft (force setpoint, wählbar). Frei wählbare z-Modulationsfrequenz des Cantilevers (sinusförmig) von 0,122kHz bis zu 2kHz und Amplitude (< 1nm –300nm). Effektive Linienraten von mindestens 2 Hz bei 512 Pixeln pro Linie- Elektrische Bildgebung (Strom- und Oberflächenpotential) in nroIM mit höchster Sensitivität und größtmöglicher Bandbreite- simultane Erfassung (Ort und Zeitpunkt) und Darstellung von Topographie, Leitfähigkeit (cAFM), , Adhäsion, DMT Modulus, Energiedissipation, force setpoint error und Deformation- Volumenspektroskopie/Hyperspektral von mechanischen und elektrischen Größen: Gleichzeitige kontinuierliche und zerstörungsfreie Datenerfassung von Topographie, nano-mechanischen und -elektrischen Daten in einen Datenwürfel (dataCUBE).