Microscopes

Description

Optische Pinzette (c-trap) Das Ziel des Vergabeverfahrens war die Beschaffung eines geeigneten Rasterelektronenmikroskops (REM), wobei Lieferung, Aufstellung, Inbetriebnahme und Einweisung sowie Problembehebung eingeschlossen sind. Wesentliche Anforderungen an das Messgerät sind: — Das REM soll die hochauflösende Untersuchung empfindlicher, sich elektrisch aufladender Proben mit z. B. ungenügend fixierten Partikeln sowie auch magnetischen Nanopartikeln erlauben. — Das REM soll einen STEM- Detektor, BSE und SE-Inlense Detektoren und einen Kammer BSE-Detektor enthalten, — Das REM soll ein EDX-System zur Identifizierung bekannter Elemente oder Element-kombinationen industriell hergestellter Nanopartikel enthalten, — Das REM soll eine Kryo-Transfereinrichtung zur in situ Untersuchung von Partikeln ohne Behinderung der zusätzlichen Detektoren enthalten, — Das REM soll möglichst kein magnetisches Feld außerhalb der Linse aufweisen, — Das REM soll für die hochaufgelöste Charakterisierung von unterschiedlichen Partikeln eine eindeutigen Trennung zwischen den Rückstreuelektronen (RE) und den Sekundärelektronen (SE) erlauben. Dabei sollen die in der Objektivlinse befindlichen in-lens Detektoren (SE1 und RE) ein von Topographie oder Kippzustand der Probe möglichst unabhängiges Signal/Rausch Verhältnis erlauben, — Isolatoren bzw. schlecht elektrisch leitende Proben (Polymer- aber auch schon Siliziumdioxidpartikel) führen zu Aufladungseffekten unter dem Elektronenstrahl, was die Charakterisierung erschwert bzw. sogar unmöglich macht. Maßnahmen zur Minimierung diese störenden Aufladungseffekte sind im Angebot auszuweisen. Die Leistungserbringung erfolgt inkl. Lieferung, Installation mit Abnahme und Einweisung.