Achat d'un Système EBSD pour installation sur un Microscope Electronique à Balayage (MEB-FEG)

Description

Achat d'un Système EBSD (Electron Back-Scattered Diffraction) pour installation sur un Microscope Electronique à Balayage (MEB-FEG). Le laboratoire souhaite disposer d'un équipement de caractérisation par la technique EBSD capable à la fois d'analyse à des échelles fines de l'ordre de quelques dizaines de nanomètres et suffisamment rapide pour explorer des surfaces étendues. Il sera installé sur un MEB-FEG JEOL de type JSM-IT800LV. Lot 1: Achat d'un Système EBSD (Electron Back-Scattered Diffraction) pour installation sur un Microscope Electronique à Balayage (MEB-FEG) DCE à télécharger sur le profil acheteur de l'ISAE-ENSMA : https://www.marches-publics.gouv.fr/ ou depuis le site internet de l'ISAE-ENSMA : https://www.ensma.fr/lecole/marches-publics/.Le marché comporte une offre de base. Les variantes sont acceptées mais limitées au nombre de deux par candidat (cf. articles 3 du CCTP et 2.2.1 du Règlement de la consultation).