Scanning electron microscopes

Description

Elektronen-Ionen-Mikroskops (FIB/SEM) für die in situ TEM-Lamellenpräparation. Die Ausschreibung zielt auf die Produktion, Lieferung und betriebsfertige Installation eines Elektronen-Ionen-Mikroskops (FIB/SEM) für die in situ TEM-Lamellenpräparation bestehend aus einem Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit Feldemissionsquelle, einem fokussiertem Ionenstrahl-Gerät (FIB) mit Ga-Flüssigmetall-Ionenquelle, entsprechenden Detektionsmöglichkeiten (insbesondere für Elektronen und Ionen), einem Mikromanipulator für die in situ TEMLamellenpräparation, Gasinjektionssystemen zur Materialabscheidung sowie weiterem Zubehör. Es muss sich dabei um ein Neugerät handeln, d.h. es darf kein Prototyp angeboten werden, sondern nur existierende, offiziell vorgestellte Produkte. Zu der im Angebotspreis anzubietenden Leistung gehören u. a.: — Durchführung einer Schwingungs- und Störfeldanalyse im Vorfeld der Installation, — Lieferung, Aufbau und Installation, — Abnahme am Aufstellort, im Rahmen der Abnahme ist der Nachweis der Erfüllung aller im Leistungskatalog beschriebenen Ausschluss- und Bewertungskriterien zu erbringen, — 24 Monate Garantie ab Abnahme, — CE Kennzeichnung, — Einweisung und Schulung vor Ort an 5 Tagen (ein Tag = 8 Stunden), verteilt auf 2 Termine incl. aller anfallenden Kosten (An- und Abreise, Übernachtung).