Scanning probe microscopes

Description

Wir benötigen ein System für die Messung der spitzenverstärkten Brillouin Streuung mit hoher räumlicher Auflösung. Das System soll zusätzlich zeitaufgelöste magnetische Mikroskopie mit hoher zeitlicher und räumlicher Auflösung in Reflektion und Transmission ermöglichen sowie die Messung plasmonischer Anregungen in Nanostrukturen mit hoher zeitlicher und räumlicher Auflösung. Dazu benötigen wir ein optisches Nahfeld-Raster-Lichtmikroskop für ultraschnelle spektroskopische Messungen mit hoher zeitlicher und räumlicher Auflösung über einen breiten Photonenenergiebereich, das in Abschnitt 2 dieser Ausschreibung näher beschrieben wird. Die Anlage wird Teil eines größeren Aufbaus für orts- und zeitaufgelöste magnetooptische Kerrmikroskopiemessungen kombiniert mir Brillouin-Spektroskopie an Dünnschicht- und Nanostrukturproben sein und muss die Möglichkeit bieten seine volle Funktionalität über externe Softwarschnittstellen (Labview, Python, etc) zu steuern und automatisiert in ein größeres Messprogramm einzubinden, welches Sekundärgeräte, z. B. Kameras, Lasersysteme und optomechanische Geräte, ansteuert. Es soll ein Nahfeldmikroskop beschafft werden, dass die Messung der spitzenverstärkten Brillouin Streuung mit hoher räumlicher Auflösung in Reflektion und Transmission ermöglicht. Neben beugungslimiterter Mikroskopie ist im speziellen ein Nahfeld-Erkennungsmodul für die Bildgebung (in Transmission und Reflexion) essentiell. Das System muss es ermöglichen ultraschnelle Laserpulse im Bereich von VIS bis IR bei bestmöglicher Zeitauflösung unter 20fs und unter Vermeidung von spektraler Dispersion des Strahls an die Probenposition einzukoppeln.