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Microscopes

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Description

Aperturfreies Nahfeldmikroskop (s-SNOM) mit Zubehör. Das zu beschaffende Nahfeldmikroskop soll primär für die Untersuchung von Spindynamik auf einer Längenskala zwischen 20 und 200 nm eingesetzt werden. Das Gerät soll aperturfrei sein und in Streugeometrie arbeiten (s-SNOM).

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