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acquisition d'un spectromètre d'émission de Rayons X de très faible énergie pour le Microscope Electronique à Balayage jeol jsm 7800f

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299,000 EUR

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JEOL Europe SAS

Description

l'Acquisition d'un spectromètre d'émission de Rayons X de très faible énergie pour le Microscope Electronique à Balayage jeol jsm 7800f, elle concerne : - la fourniture - la livraison - la mise en service - le service après-vente - la formation à l'utilisation d'un spectromètre d'émission de Rayons-X de très faible énergie couplé à un Microscope Électronique à Balayage (Meb). Cet outil a pour fonction de permettre l'analyse chimique d'éléments légers (Li, b, c, n, o...) mais également d'éléments lourds dans des matériaux très variés (poudres, échantillons massifs, échantillons conducteurs, isolants...). Il viendra compléter la gamme analytique déjà présente au Centre CASTAING.. La résolution en énergie de ce spectromètre doit être inférieure à <1ev au regard de celle obtenue par EDS et WDS Le détecteur équipera le microscope électronique à balayage JEOL Jsm-7800f Prime du Centre de Microcaractérisation Raimond Castaing - uAR 3623 à TOULOUSE Lot 1: le marché a pour objet l'acquisition d'un spectromètre d'émission de Rayons X de très faible énergie pour le Microscope Electronique à Balayage jeol jsm 7800f, elle concerne : - la fourniture- la livraison- la mise en service - le service après-vente - la formation à l'utilisation d'un spectromètre d'émission de Rayons-X de très faible énergie couplé à un Microscope Électronique à Balayage (Meb).Cet outil a pour fonction de permettre l'analyse chimique d'éléments légers (Li, b, c, n, o...) mais également d'éléments lourds dans des matériaux très variés (poudres, échantillons massifs, échantillons conducteurs, isolants...). Il viendra compléter la gamme analytique déjà présente au Centre CASTAING.. La résolution en énergie de ce spectromètre doit être inférieure à <1ev au regard de celle obtenue par EDS et WDS Le détecteur équipera le microscope électronique à balayage JEOL Jsm-7800f Prime du Centre de Microcaractérisation Raimond Castaing - uAR 3623 à TOULOUSE

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