Kamera- und Laserbasiertes Messsystem

Description

Ziel des Auftrags ist es, ein Kamera- und Laserbasiertes Messsystem zu beschaffen, das Seitenkanalanalysen und Fehlerangriffe auf Microcontroller ermöglicht. Konkret soll das System in der Lage sein, mittels Emissionsmikroskopie (EMMI) auf photonischer Basis, thermischer Laser-Simulation (TLS) sowie optischer Strahl-induzierter Strom (OBIC) für Leckstrom basierte Seitenkanalanalysen Messungen durchzuführen und laserinduzierte Fehlerangriffe (LFI) auszuführen. Lot 1: Dabei soll das System an geöffneten Chips sowohl von der Vorder- als auch von der Rückseite eingesetzt werden können. Das Messsystem soll sowohl die optische, elektronische und mechanische Hardware umfassen als auch eine Steuerungssoftware, um das System von einem Rechner aus steuern zu können. Die Beschaffung des Systems soll bis spätestens Anfang Dezember 2023 abgeschlossen sein. Es soll primär für die Ausbildung im Bereich Hardwaresicherheit und Hardware-Design eingesetzt werden und idealerweise auch in der Forschung genutzt werden können.