Machines and apparatus for testing and measuring

Description

Předmětem této veřejné zakázky je dodávka systému pro nanomechanické testování vzorků v rastrovacím elektronovém mikroskopu pomocí nanoindentace, napětí, komprese, režimů deformace v ohybu v režimech řízených posunem a silou a aplikovaných jednorázově, cyklicky a dynamicky při okolní a řízeně zvyšovaných Teplotách s možností polohování x, y, z a úhlových a naklápěných otáček směrem k SEM detektorům pro EBSD a STEM-korelované deformace. Systém musí být nový, plně funkční a kompletní a bude používán pro přesné zkoušení deformace definované uživatelem a měření síly definované uživatelem a měření odezvy materiálu na Mikrometrických vzorcích v rastrovacím elektronovém mikroskopu (SEM), aby bylo možné studovat statiku, únavový a dynamický termomechanicky řízený deformační mechanismus pomocí zobrazovacích metod a technik SEM. Předmětem této veřejné zakázky je dodávka systému pro nanomechanické testování vzorků v rastrovacím elektronovém mikroskopu pomocí nanoindentace, napětí, komprese, režimů deformace v ohybu v režimech řízených posunem a silou a aplikovaných jednorázově, cyklicky a dynamicky při okolní a řízeně zvyšovaných Teplotách s možností polohování x, y, z a úhlových a naklápěných otáček směrem k SEM detektorům pro EBSD a STEM-korelované deformace. Systém musí být nový, plně funkční a kompletní a bude používán pro přesné zkoušení deformace definované uživatelem a měření síly definované uživatelem a měření odezvy materiálu na Mikrometrických vzorcích v rastrovacím elektronovém mikroskopu (SEM), aby bylo možné studovat statiku, únavový a dynamický termomechanicky řízený deformační mechanismus pomocí zobrazovacích metod a technik SEM.