Scanning electron microscopes

Description

Le CEA a pour objectif d'acquérir un microscope électronique à balayage conventionnel associé à un système EDS, l'ensemble étant ci-après dénommé l'équipement. Ce microscope électronique à balayage permettra de répondre aux multiples études menées au sein du service concerné par la prestation, notamment en ce qui concerne les approches multi-échelles permettant de relier la microstructure des matériaux et le comportement mécanique notamment lors d'expertises, d'analyse de défaillance et lors d'essai de déformation in situ dans le MEB. Les prestations comprennent: — la fourniture de l’équipement, — les tests de l’équipement concluant effectués par le titulaire en usine, — la livraison, l’installation et la mise en service de l’équipement sur site, — la fourniture de toute documentation nécessaire à l’utilisation ou à la maintenance de l’équipement, — la formation du personnel CEA, — la garantie de l’équipement d’une durée de 12 mois, — la maintenance préventive et corrective de l'équipement pour une durée de 3 ans à l'issue de la période garantie. Il est précisé que l'équipement comprend les 3 options suivantes affermies par le CEA: — le porte-objet additionnel sur mesure «Charpy» de dimensions (L x l x h) 10 x 10 x 27,5 mm, — le porte-objet additionnel sur mesure «mini-Charpy» de dimensions (L x l x h) 4 x 3 x 13,5 mm, — le système de nettoyage de la chambre et des échantillons.