fornitura e posa in opera di un microscopio a doppio fascio Ionico Focalizzato – Scansione Elettronico (FIB-SEM) per il Dipartimento di Ingegneria

Description

fornitura e posa in opera di un microscopio a doppio fascio Ionico Focalizzato – Scansione Elettronico (FIB-SEM) per il Dipartimento di Ingegneria, secondo le norme di legge che regolano lo specifico settore, come dettagliatamente citate nel Capitolato Tecnico Lot 1: fornitura e posa in opera di un microscopio a doppio fascio Ionico Focalizzato – Scansione Elettronico (FIB-SEM) per il Dipartimento di Ingegneria, secondo le norme di legge che regolano lo specifico settore, come dettagliatamente citate nel Capitolato Tecnico La fornitura rientra tra gli acquisti di attrezzature scientifiche nell’ambito del progetto “iENTRANCE@ENL”, Codice: IR0000027 Missione 04 ”Istruzione e ricerca” – Componente 2 “Dalla ricerca all’impresa” – Investimento 3.1 “Rafforzamento e creazione di IR nell’ambito del Piano Nazionale di Ripresa e Resilienza” – finanziato dall’Unione Europea – NextGenerationEU.